CITIUS X線検出器システムは、X線光子から変換される信号電荷量を計測する積分型方式を採用しています。
飽和計数率：Saturation count rate
性能指標として、1秒間に計測できる最大のX線光子数があり、これを飽和計数率と呼んでいます。 CITIUS X線検出器システムの場合、飽和計数率は光子エネルギーに反比例します。
CITIUS X線検出器システムは、 12 keVで600 Mcpsを実現しています。これにより既存実験の高度化が可能です。また、高輝度光源で期待されている新しい実験手法での活用が期待されています。
高速フレームレート
イメージセンサーにおけるフレームレートは1秒あたりの画像の枚数で定義されます。高速であるほど時間分解能が高くなり、対象物の変化を記録できます。
CMOSイメージセンサーであるCITIUSは積分型（電荷蓄積型）で、高速動作を行いながら同時に信号量の正確な記録が可能です。さらに、各フレームの最大信号量が1800 photons/frameと大きく、高速でありながらフレーム単位での詳細解析が可能です。
電気光学性能一覧
| Sensor material | Silicon (Si) |
| Architecture | Integrating pixel, fast frame readout |
| Sensor Thickness | 650 μm |
| Nominal Quantum Efficiency | 100 % @ 6 keV 94 % @ 12 keV 47 % @ 20 keV [1] |
| Pixel Size | 72.6 μm x 72.6 μm |
| Format | 384 ｘ 728 = 279,552 pixels |
| Image area | 27.88 mm x 52.85 mm |
| Noise | 60 e- rms.(equivalent to 0.018 photons @ 12 keV) |
| Peak Signal | 1,800 photons @ 12 keV/frame |
| Saturation Count Rate | 30 Mcps/pixel @ 12 keV 600 Mcps/pixel @ 12 keV |
| Max Frame Rate | 17.4 kHz |
| Energy Range | 5 – 30 keV (1.5 - 5 keVの動作も可能です。お問合せください） |
[1] B.L. Henke, et.al., Atomic Data and Nuclear Data Tables Vol. 54 (no.2), 181-342 (July 1993).